Fringe Pattern Analysis for Optical Metrology
- Izpārdots
0
/https://libri-media.knygos-static.lt/0eca9846-f318-4d61-b395-03693781658b/2)
- Autors: Manuel Servín, J. Antonio Quiroga, J. Moises Padilla
- Izdevējs Wiley VCH Verlag GmbH
- Gads: 2014
- ISBN-10 : 3527411526
- ISBN-13 : 9783527411528
- Formāts: 17.6 x 25.1 x 2.2 cm, kieti viršeliai
- Valoda: Anglų
Fringe Pattern Analysis for Optical Metrology | Bookbook.lv
Atsauksmes
Izpārdots
Vai jums ir kopija? Pārdodiet to!
- Autors: Manuel Servín, J. Antonio Quiroga, J. Moises Padilla
- Izdevējs Wiley VCH Verlag GmbH
- Gads: 2014
- ISBN-10: 3527411526
- ISBN-13: 9783527411528
- Formāts 17.6 x 25.1 x 2.2 cm, kieti viršeliai
- Valoda: Anglų
Atsauksmes